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双电测数字式四探针测试仪DP-2263
产品简介
product
产品分类| 产地类别 | 国产 |
|---|
双电测数字式四探针测试仪DP-2263
概述
DP-2263型双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测-改形范德堡测量方法测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，行两次电测量，对数据行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
双电测数字式四探针测试仪DP-2263
仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等分组成。
主机主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、能转换采用数字化键盘和数码开关输入；具有零位、满度自校能；测试能可自动/手动方式；仪器操作可由配套软件在PC机上操作成，也可脱PC机由四探针仪器面板上立操作成。测试结果数据由主机数码管直接显示，也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和打印！
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。
测试台选配：般四探针法测试电阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型测试台。
仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、化程度、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
三、基本参数
3.1 测量范围
电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm 方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
电 阻：1×10-5～2×105 Ω ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω
3.2 材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定)
直 径：DP-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限
DP-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.
长()度：测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.
测量方位: 轴向、径向均可
3.3. 4-1/2 位数字电压表：
(1)量程： 20.00mV～2000mV
(2)误差：±0.1%读数±2 字
3.4 数控恒流源
(1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A
(2)误差：±0.1%读数±2 字
3.5 四探针探头（选配其或加配）
(1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调
(2)薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调
3.6 电源
输入: AC 220V±10% ,50Hz 耗：<20W
3.7 外形尺寸：
主机 220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（）
四探针电阻率测试仪／四探针电阻率/方阻测定仪 型号：DP-2253
概述
DP-2253型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等分组成。
主机主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、能转换采用数字化键盘和数码开关输入；具有零位、满度自校能；测试能可自动/手动方式；仪器操作可由配套软件在PC机上操作成，也可脱PC机由四探针仪器面板上立操作成。测试结果数据由主机数码管直接显示，也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和打印！
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
测试台选配：般四探针法测试电阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选DP-K型测试台，也可选配DP-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配DP-G型测试台测试橡塑材料电阻率。
仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、化程度、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本参数
3.1 测量范围
电 阻：1×10-4～2×105 Ω ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω
电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm 方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
3.2 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
直 径：DP-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限
DP-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.
长()度：测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.
测量方位: 轴向、径向均可
3.3. 4-1/2 位数字电压表：
(1)量程： 20.00mV～2000mV
(2)误差：±0.1%读数±2 字
3.4 数控恒流源
(1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A
(2)误差：±0.1%读数±2 字
3.5 四探针探头（选配其或加配）
(1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调
(2)薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调
3.6. 电源
输入: AC 220V±10% ,50Hz 耗：<20W
3.7.外形尺寸：
主 机 220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（）
净 重：≤2.5kg
数字式四探针测试仪/电阻率/方阻测试仪 型号：DP-2258C
概述
DP-2258C型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等分组成。
主机主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、能转换采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校能；电压电流自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类能，zui大分类10类。
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
测试台选配：般四探针法测试电阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选DP-K型测试台，也可选配DP-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配DP-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》
仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、化程度、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本参数
1. 测量范围、分辨率（括号内为可向下拓展1个数量级）
电 阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω, 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103 Ω
（1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω, 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
电 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103 Ω-cm
（1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
方块电阻：50.0×10-6 ～ 1.0×106 Ω/□ 分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103 Ω/□
（5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103 Ω/□）
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
直 径： DP-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限
DP-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.
长()度： 测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.
测量方位: 轴向、径向均可
3. 量程划分及误差等级
满度显示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000
常规量程 kΩ-cm/□ kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ ---
zui大拓展量程 --- kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ mΩ-cm/□
基本误差 ±2%FSB
±4LSB ±1.5%FSB
±4LSB ±0.5%FSB±2LSB ±0.5%FSB
±4LSB ±1.0%FSB
±4LSB
4.作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W
5.外形尺寸： 245mm（长）×220 mm（宽）×95mm（）
净 重：≤1.5～2.0kg
数字式四探针测试仪/电阻率/方阻测试仪 型号：DP-2258A
概述
DP-2258A型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等分组成。
主机主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、能转换采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校能；电压电流自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类能，zui大分类10类。
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
测试台选配：般四探针法测试电阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选DP-K型测试台，也可选配DP-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配DP-G型测试台测试橡塑材料电阻率。
仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、化程度、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本参数
1. 测量范围、分辨率（可向下拓展1～3个数量级，括号内为向下拓展3个数量级）
电 阻：1.0×10-3 ～ 200.0×105 Ω, 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×104 Ω
（1.0×10-6 ～ 200.0×102 Ω, 分辨率0.1×10-6 ～ 0.1×102 Ω）
电 阻 率：1.0×10-3 ～ 200.0×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103 Ω-cm
（1.0×10-6 ～ 200.0×101 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.1×101 Ω-cm）
方块电阻：5.0×10-3 ～ 100.0×104 Ω/□ 分辨率0.5×10-3 ～ 0.1×103 Ω/□
（5.0×10-6 ～ 100.0×101 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×101 Ω/□）
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
直 径： DP-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限
DP-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.
长()度： 测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.
测量方位: 轴向、径向均可
3. 量程划分及误差等级
满度显示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0
常规量程 kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□
zui大拓展量程 Ω-cm/□ mΩ-cm/□ μΩ-cm/□
基本误差 ±2%FSB
±4LSB ±1.5%FSB
±4LSB ±0.5%FSB±2LSB ±0.5%FSB
±4LSB
4) 作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W
5) 外形尺寸：W×H×L=215mm×85mm×190mm
净 重：≤1.5～2.0kg
微量移液器/移液器/微量移液枪 型号：DP27026
产品参数：
1µL～10µL/20µL～200µL/100µL～1000µL/500µL～5000µL |
温馨提示：以上产品资料和图片都是按照顺序相对应的
本公司主营 液氮治疗仪，电测水位计，空盒气压表，奥氏气体分析仪。四联自动射流萃取器，烟尘烟气分析仪，便携式烟气分析仪，金属粉末流动性测定仪， 污垢热阻检测仪 ，数字式大气压计 ，不锈钢自动溶液过滤器，紫外辐照计，氢气发生器，露点传感器 ，红外测油仪 ，污染数SDI测定仪，三聚氰胺速测仪 ，粉体综合特性测试仪 粉体特性测试仪 放射性检测仪，防静电表/静电测试仪/ 湿式气体流量计 气体流量计 流量计等。公司秉承“顾客至上，锐意取”的经营理念，坚持“客户*”的原则为广大客户提供优质的服务。欢迎惠顾！
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