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Product Center四探针测试仪 四探针检测仪 四探针测定仪/四探针电阻率测定仪
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产品分类四探针测试仪 四探针检测仪 四探针测定仪/四探针电阻率测定仪 型号:DP-8
DP-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准而的,于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的仪器。
仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。
仪器采用了电子行、装配。具有能选择直观、测量取数快、度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。
本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。
术 标 :
测量范围 电阻率:10-4~105 Ω.cm(可扩展);
方块电阻:10-3~106 Ω/□(可扩展);
电导率:10-5~104 s/cm;
电阻:10-4~105 Ω;
可测晶片直径 140mmX150mm(配S-2A型测试台);
200mmX200mm(配S-2B型测试台);
400mmX500mm(配S-2C型测试台);
恒流源 电流量程分为1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六档,各档电流连续可调
数字电压表 量程及表示形式:000.00~199.99mV;
分辨力:10μV;
输入阻抗:>1000MΩ;
度:±0.1% ;
显示:四位半红色发光管数字显示;性、量程自动显示;
四探针探头基本标 间距:1±0.01mm;
针间缘电阻:≥1000MΩ;
机械游移率:≤0.3%;
探针:碳化钨或速钢Ф0.5mm;
探针压力:5~16 牛顿(总力);
四探针探头应用参数 (见探头附带的合格证)
模拟电阻测量相对误差
( 按JJG508-87行) 0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字
整机测量zui大相对误差 (用硅标样片:0.01-180Ω.cm测试)≤±5%
整机测量标准不确定度 ≤5%
计算机通讯接口 并口
标准使用环境 温度:23±2℃;
相对湿度:≤65%;
无频干扰;
无强光直射;
配置 四探针测试仪主机、探针台、四探针探头、
2.
遮盖率测定仪/遮盖率检测仪/遮盖率测试仪 型号:DP-2388
遮盖率测定仪/遮盖率检测仪/遮盖率测试仪 说明:
遮盖率测定仪是我公司在DP-Ⅲ反射率测定仪的基础 上新开发的微机型产品,其参数附合家标准GB/T13452.3-92、GB9270-88、GB5211.17-88和标准ISO3906-1980(E)。本仪器采用中文菜单,显示清晰、操作方便,它具有数据测量、数据储存、数据处理和数据查询等能。遮盖率测定仪适用于测定白色漆和浅色漆的遮盖率, 也可以测定色漆和清漆在固定涂布率下的反射率
遮盖率测定仪/遮盖率检测仪/遮盖率测试仪 特点:
1、测量范围: 0―100
2、分度值: 0.1
3、示值误差: ±1
4、重复度: 0.3
5、环境温度: 200C±50C 相对湿度 < 85%
6、作电源: 220V±10% 50Hz
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