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引力常量实验仪/常量实验仪

产品简介

引力常量实验仪/常量实验仪 型号:DP-J4058
根据卡文迪许的扭称实验结构行改、小型化的仪器。用于演示观察物体之间存在相互作用力的现象,测量有引力恒量G。

产品型号:DP-J4058
更新时间:2015-08-14
厂商性质:生产厂家
访问量:1353

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引力常量实验仪/常量实验仪 型号:DP-J4058

引力常量实验仪/常量实验仪 型号:DP-J4058根据卡文迪许的扭称实验结构行改、小型化的仪器。用于演示观察物体之间存在相互作用力的现象,测量有引力恒量G。
  型号:DP-J4058仪器参数:
可定性演示验证有引力的存在,可定量测量引力常量G值,实验相对误差﹤5%。





密封胶相容性试验箱/密封性试验箱 型号:DP-UV2004

密封胶相容性试验箱(DP-UVA-340相溶性紫外线辐射照试验箱,)是GB16776-2005《建筑用硅酮结构密封胶》(附录A相容性试验)中的主要检测仪器之。
仪器具有作状态记忆、温度自动控制及辐照时间计时能。当辐照时间到时能自动停机和报警。辐照过程中若外界停电,当恢复供电时,自动启动并继续辐照试验,计时器行累加计时。
仪器满足GB16776-2005《建筑用硅酮结构密封胶》(附录A相容性试验)对密封胶相容性试验箱(DP-UVA-340)的要求。
主要标:
1、紫外线荧光灯率: 40W×4支
2、温度测量范围:     0~65℃
3、温度控制度:     ±0.5℃
4、辐照时间设定值:   0~999小时59分钟
5、加热器率:       200W
6、试验箱外形尺寸:   1250×350×690mm
7、电      源:       220VAC±10%  2kVA
8、壳      体:       不锈钢 




涡流测厚仪 型号:DP-ED400

 DP-ED400型涡流测厚仪是DP-ED300型测厚仪的改型,仪器性能大幅度提。
      仪器适于测量各种非磁性金属基体上缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝材料、铝件表面的阳氧化膜或涂层厚度,以及其他有色金属材料上缘性覆盖层的厚度,测量塑料薄膜及纸张厚度。
      仪器适于在现场、销售现场或施现场对产品行快速、无损的膜厚检查, 可用于检验、验收检验和质量监督检验。
      仪器符合家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。
仪器特点
       DP-ED400型涡流测厚仪与DP-ED300型相比,具有如下特点:
*量程宽   DP-ED400型的量程达到0~500μm。
*度   DP-ED400型的测量度达到2%。
*分辨率   DP-ED400型的分辨率达到0.1μm。
*校正简便   只校正“0"和“50μm"两点,即可在量程范围内保证度。
*基体导电率影响小   基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时,测量
   误差不大于1~2μm。
*可靠性提   采用集成度、稳定性电子器件,电路结构优化,仪器可靠性
   提。
*稳定性提   采用的温度补偿,测量值随环境温度的变化很小。仪器
   校正次可在现场长期使用。
*探头线寿命长   采用德口的,在德测厚仪上使用的探头线,探头线寿命
   可大大延长。
*探头芯寿命长   采用强度磁芯材料,微调了探头,探头芯寿命可大大延
   长。
*探头可互换   外接式探头,探头损坏后,使用者可自行更换备用探头。仪器无
   需返厂维修。

测量范围:     0~500μm
测量度:     0~50μm:±1μm;
                    50~500μm:±2%
分 辨 率:     0~50μm:0.1μm、
                    50~500μm:1μm;
                    0~500μm:1μm(可选)
使用温度:     5~45℃
外形尺寸:     150mm×80mm×30mm
重      量:     260g






涡流测厚仪/便携式涡流测厚仪 型号:DP-ED300

DP-ED300型涡流测厚仪是种小型便携式仪器。性能稳定、测量准确、重现性好、经济耐用,符合家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流法》。仪器多次通过家计量的性能试验,获得计量器具许可证。 

  DP-ED300型涡流测厚仪,用于测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝材料、铝件表面的阳氧化膜或涂层厚度。
      仪器适于在现场、销售现场或施现场对产品行快速无损的膜厚检查。可用于检验、验收检验和质量监督检验。
      仪器在内铝型材、铝门窗、监督、程质检等行业得到广泛应用,得到用户的广泛信与好评。
仪器特点
﹡校正箔片   作为仪器的计量基准,校正箔片经过家计量检测,附有检测
    报告。
﹡探头   对容易受损的探头做了耐久性,具有防磕碰、防水等防护能。
﹡探头线   日本口的探头线使用寿命较长。
﹡仪器防护套   结实的透明塑料仪器套,可保护仪器免受损伤和污染。
﹡经久耐用  DP-ED300型测厚仪对于恶劣的使用环境,频繁的测量操作适应性较
   强。在铝型材行业十几年的使用证明,它是种性能优良、可靠实用的仪器

测量范围:   0~150μm     
测量度:   ±3%                    
分 辨 率:   0.1μm
      耗:   0.06W      
外形尺寸:   150mm×80mm×30mm       
重      量:   280g

标准配置

主机             1台
探头             1支
基体             1块(6063合金)
校正箔片       1套4片(附检测报告)
使用说明书    1份
合格证          1份
保修单          1份   
手提式仪器箱 1个






可调温露点仪/露点仪/在中空玻璃点仪 型号:DP-TW-25

1.用途:

DP-TW-25型可调温露点仪为符合美ASTM E546和E576标准的中空玻璃露点检测设备。该设备为便携型的检测中空玻璃露点的设备,可对水平放置或垂直放置的样品行测量。DP-TW-25型可调温露点仪具有冷阱温度调节范围大、温度调节梯度小、冷容量大(规定试验时间内温度波动小)、冷散失量小、试验成本低等特点,在中空玻璃厂家、科研院所、检测中心及建筑程上已得到了广泛的应用。

2.主要标:

1.        冷阱有效直径:Φ25.4mm;

2.        干冰筒容积:Φ75×145mm;

3.        温度调节范围:-10至-60℃;

4.        温度调节梯度:≤±2℃;

5.        温度波动量:±2℃;

6.        温度调节示表(百分表)准确性≤±10μm;

7.        数显温度计示准确性≤±1℃;

8.        试验方式:水平样品或垂直样品;


注:产品详细介绍资料和上面显示产品图片是相对应的




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