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Product Center引力常量实验仪/常量实验仪
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产品分类引力常量实验仪/常量实验仪 型号:DP-J4058根据卡文迪许的扭称实验结构行改、小型化的仪器。用于演示观察物体之间存在相互作用力的现象,测量有引力恒量G。
型号:DP-J4058仪器参数:
可定性演示验证有引力的存在,可定量测量引力常量G值,实验相对误差﹤5%。
密封胶相容性试验箱/密封性试验箱 型号:DP-UV2004
密封胶相容性试验箱(DP-UVA-340相溶性紫外线辐射照试验箱,)是GB16776-2005《建筑用硅酮结构密封胶》(附录A相容性试验)中的主要检测仪器之。
仪器具有作状态记忆、温度自动控制及辐照时间计时能。当辐照时间到时能自动停机和报警。辐照过程中若外界停电,当恢复供电时,自动启动并继续辐照试验,计时器行累加计时。
仪器满足GB16776-2005《建筑用硅酮结构密封胶》(附录A相容性试验)对密封胶相容性试验箱(DP-UVA-340)的要求。
主要标:
1、紫外线荧光灯率: 40W×4支
2、温度测量范围: 0~65℃
3、温度控制度: ±0.5℃
4、辐照时间设定值: 0~999小时59分钟
5、加热器率: 200W
6、试验箱外形尺寸: 1250×350×690mm
7、电 源: 220VAC±10% 2kVA
8、壳 体: 不锈钢
涡流测厚仪 型号:DP-ED400
DP-ED400型涡流测厚仪是DP-ED300型测厚仪的改型,仪器性能大幅度提。
仪器适于测量各种非磁性金属基体上缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝材料、铝件表面的阳氧化膜或涂层厚度,以及其他有色金属材料上缘性覆盖层的厚度,测量塑料薄膜及纸张厚度。
仪器适于在现场、销售现场或施现场对产品行快速、无损的膜厚检查, 可用于检验、验收检验和质量监督检验。
仪器符合家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。
仪器特点
DP-ED400型涡流测厚仪与DP-ED300型相比,具有如下特点:
*量程宽 DP-ED400型的量程达到0~500μm。
*度 DP-ED400型的测量度达到2%。
*分辨率 DP-ED400型的分辨率达到0.1μm。
*校正简便 只校正“0"和“50μm"两点,即可在量程范围内保证度。
*基体导电率影响小 基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时,测量
误差不大于1~2μm。
*可靠性提 采用集成度、稳定性电子器件,电路结构优化,仪器可靠性
提。
*稳定性提 采用的温度补偿,测量值随环境温度的变化很小。仪器
校正次可在现场长期使用。
*探头线寿命长 采用德口的,在德测厚仪上使用的探头线,探头线寿命
可大大延长。
*探头芯寿命长 采用强度磁芯材料,微调了探头,探头芯寿命可大大延
长。
*探头可互换 外接式探头,探头损坏后,使用者可自行更换备用探头。仪器无
需返厂维修。
测量范围: 0~500μm
测量度: 0~50μm:±1μm;
50~500μm:±2%
分 辨 率: 0~50μm:0.1μm、
50~500μm:1μm;
0~500μm:1μm(可选)
使用温度: 5~45℃
外形尺寸: 150mm×80mm×30mm
重 量: 260g
涡流测厚仪/便携式涡流测厚仪 型号:DP-ED300
DP-ED300型涡流测厚仪是种小型便携式仪器。性能稳定、测量准确、重现性好、经济耐用,符合家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流法》。仪器多次通过家计量的性能试验,获得计量器具许可证。
DP-ED300型涡流测厚仪,用于测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝材料、铝件表面的阳氧化膜或涂层厚度。
仪器适于在现场、销售现场或施现场对产品行快速无损的膜厚检查。可用于检验、验收检验和质量监督检验。
仪器在内铝型材、铝门窗、监督、程质检等行业得到广泛应用,得到用户的广泛信与好评。
仪器特点
﹡校正箔片 作为仪器的计量基准,校正箔片经过家计量检测,附有检测
报告。
﹡探头 对容易受损的探头做了耐久性,具有防磕碰、防水等防护能。
﹡探头线 日本口的探头线使用寿命较长。
﹡仪器防护套 结实的透明塑料仪器套,可保护仪器免受损伤和污染。
﹡经久耐用 DP-ED300型测厚仪对于恶劣的使用环境,频繁的测量操作适应性较
强。在铝型材行业十几年的使用证明,它是种性能优良、可靠实用的仪器
测量范围: 0~150μm
测量度: ±3%
分 辨 率: 0.1μm
耗: 0.06W
外形尺寸: 150mm×80mm×30mm
重 量: 280g
标准配置
主机 1台
探头 1支
基体 1块(6063合金)
校正箔片 1套4片(附检测报告)
使用说明书 1份
合格证 1份
保修单 1份
手提式仪器箱 1个
可调温露点仪/露点仪/在中空玻璃点仪 型号:DP-TW-25
1.用途:
DP-TW-25型可调温露点仪为符合美ASTM E546和E576标准的中空玻璃露点检测设备。该设备为便携型的检测中空玻璃露点的设备,可对水平放置或垂直放置的样品行测量。DP-TW-25型可调温露点仪具有冷阱温度调节范围大、温度调节梯度小、冷容量大(规定试验时间内温度波动小)、冷散失量小、试验成本低等特点,在中空玻璃厂家、科研院所、检测中心及建筑程上已得到了广泛的应用。
2.主要标:
1. 冷阱有效直径:Φ25.4mm;
2. 干冰筒容积:Φ75×145mm;
3. 温度调节范围:-10至-60℃;
4. 温度调节梯度:≤±2℃;
5. 温度波动量:±2℃;
6. 温度调节示表(百分表)准确性≤±10μm;
7. 数显温度计示准确性≤±1℃;
8. 试验方式:水平样品或垂直样品;
注:产品详细介绍资料和上面显示产品图片是相对应的