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手持式数字式四探针测试仪/手持式四探针测试仪/四探针电阻测试仪

产品简介

手持式数字式四探针测试仪/手持式四探针测试仪/四探针电阻测试仪 型号:DPDM-2

DPDM-2型手持式数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准。

产品型号:DPDM-2
更新时间:2017-10-24
厂商性质:生产厂家
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手持式数字式四探针测试仪/手持式四探针测试仪/四探针电阻测试仪 型号:DPDM-2

DPDM-2型手持式数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准。

      仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头等二分组成,也可加配测试台。

主机主要由数控恒流源,分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成,自动转换量程。仪器所有参数设定、能转换采用旋钮输入;具有零位、满度自校能;自动转换量程;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电,适合手持式变动场合操作使用!

      探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配探头,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。

     

         详见  2《四探针探头型号规格特征选型参照表》点击入

仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、化程度、结构紧凑、使用简便等特点。

仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

三、基本参数

1. 测量范围、分辨率

        阻:     0.010 9999Ω,    分辨率0.001 1 Ω

    率:     0.010 2000Ω-cm 分辨率0.001 1 Ω-cm

    方块电阻:     0.050 2000Ω/□   分辨率0.001 1 Ω/□

2. 材料尺寸

   手持方式不限材料尺寸,但加配测试台则由选配测试台和测试方式决定

       径:DPD/SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15130mm

   DPD/SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm

   ()度:测试台直接测试方式 H≤100mm.

   测量方位: 轴向、径向均可.

3. 量程划分及误差等级

量程(Ω-cm/□

9.999

99.99

999.9

9999.

电阻测试范围

0.010~9.999

9.99~99.99

99.99~999.9

999.9~9999

电阻率/方阻

0.010/0.050~9.999

9.99~99.99

99.99~999.9

999.9~2000

基本误差

±1%FSB±2LSB

±2%FSB±2LSB

4) 适配器作电源:220V±10, f=50Hz±4,PW≤5W,或电池供电

5) 外形尺寸:W×H×L=18cm×7.5cm×13cm

   重:≤0.5kg

 

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